eng
Business People
Деловые люди
N. L. Istomina
Our Business Philosophy is to Think Ahead DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.8.11
JSC ZNTC, one of the technological leaders of the Russian microelectronics market, confidently declares its position in the photonics market. Anatoly Andreevich Kovalev, General Director of ZNTC JSC, graduate of MIET, Doctor of Technical Sciences, spoke about the company’s tasks and the intricacies of technological solutions.
Our Business Philosophy is to Think Ahead DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.8.11
JSC ZNTC, one of the technological leaders of the Russian microelectronics market, confidently declares its position in the photonics market. Anatoly Andreevich Kovalev, General Director of ZNTC JSC, graduate of MIET, Doctor of Technical Sciences, spoke about the company’s tasks and the intricacies of technological solutions.
Н. Л. Истомина
Идем на опережение DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.8.11
Компания АО «ЗНТЦ», один из технологических лидеров российского рынка микроэлектроники, уверенно заявляет свои позиции и на рынке фотоники. Генеральный директор АО «ЗНТЦ», выпускник МИЭТ, д. т. н. Анатолий Андреевич Ковалёв рассказал о задачах компании, о тонкостях принимаемых технологических решений.
Идем на опережение DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.8.11
Компания АО «ЗНТЦ», один из технологических лидеров российского рынка микроэлектроники, уверенно заявляет свои позиции и на рынке фотоники. Генеральный директор АО «ЗНТЦ», выпускник МИЭТ, д. т. н. Анатолий Андреевич Ковалёв рассказал о задачах компании, о тонкостях принимаемых технологических решений.
Теги: enclosure technologies multiplexer photonic integrated circuits (pic) technological entrepreneurship мультиплексор технологии корпусирования технологическое предпринимательство фотонные интегральные схемы (фис)
Quantum Technologies
Квантовые технологии
V. G. Krishtop
Single Photon Sources. A Review. Part 3 DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.28.38
The article continues the review of single photon sources while considering various methods for the single photon sources (SPS) development. Earlier, the first part of the review (Photonics Russia. 2024; 18(5): 376–396) discussed the requirements for single-photon sources and their characterization criteria, described the single-ion and single-atom-based single-photon sources. The SPSs based on the quantum dots and color centers in the crystals were considered in the second part of the review (Photonics Russia. 2024; 18(8): 610–620). The third part considers the single-photon sources based on the carbon nanotubes and their defects (defect engineering in the nanotubes), on nanocrystals and layered nanocrystals.
Single Photon Sources. A Review. Part 3 DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.28.38
The article continues the review of single photon sources while considering various methods for the single photon sources (SPS) development. Earlier, the first part of the review (Photonics Russia. 2024; 18(5): 376–396) discussed the requirements for single-photon sources and their characterization criteria, described the single-ion and single-atom-based single-photon sources. The SPSs based on the quantum dots and color centers in the crystals were considered in the second part of the review (Photonics Russia. 2024; 18(8): 610–620). The third part considers the single-photon sources based on the carbon nanotubes and their defects (defect engineering in the nanotubes), on nanocrystals and layered nanocrystals.
В. Г. Криштоп
Источники одиночных фотонов. Обзор. Часть 3 DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.28.38
Московский физико-технический институт, г. Долгопрудный, Моск. обл., Россия.
Статья продолжает обзор источников одиночных фотонов, в котором рассматриваются различные способы создания однофотонных источников (ИОФ). Ранее в первой части обзора (Photonics Russia. 2024; 18(5): 376–396) обсуждались требования к однофотонным источникам и критерии их характеризации, описывались источники одиночных фотонов на основе одиночных ионов и на основе одиночных атомов. ИОФ на квантовых точках и на центрах окраски в кристаллах были рассмотрены во второй части обзора (Photonics Russia. 2024; 18(8): 610–620). В третьей части рассмотрены однофотонные источники на углеродных нанотрубках и дефектах в них (инженерия дефектов в нанотрубках), на нанокристаллах и слоистых нанокристаллах.
Источники одиночных фотонов. Обзор. Часть 3 DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.28.38
Московский физико-технический институт, г. Долгопрудный, Моск. обл., Россия.
Статья продолжает обзор источников одиночных фотонов, в котором рассматриваются различные способы создания однофотонных источников (ИОФ). Ранее в первой части обзора (Photonics Russia. 2024; 18(5): 376–396) обсуждались требования к однофотонным источникам и критерии их характеризации, описывались источники одиночных фотонов на основе одиночных ионов и на основе одиночных атомов. ИОФ на квантовых точках и на центрах окраски в кристаллах были рассмотрены во второй части обзора (Photonics Russia. 2024; 18(8): 610–620). В третьей части рассмотрены однофотонные источники на углеродных нанотрубках и дефектах в них (инженерия дефектов в нанотрубках), на нанокристаллах и слоистых нанокристаллах.
Теги: carbon nanotubes chirality indices low dimensional nanostructures nanocrystals nanotube defect engineering quantum dots индексы хиральности инженерия дефектов в нанотрубках квантовые точки нанокристаллы низкоразмерные наноструктуры углеродные нанотрубки
Metatronics
Метатроника
P. P. Maltsev
Interaction of Electromagnetic Radiation with the Metal Fractal Clusters. Part 1 DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.14.27
This paper provides the results of studies on the influence of the aluminum nanoisland dimensions with a length l during the fractal cluster formation on the polymer threads using the carbon benzene ring fibers on the conditions for the occurrence of “highly conductive off-surface state” during breakdown with an electric field strength of 1.6 kV/cm. The layer thickness was calculated in the case of the skin-effect in polymer threads with the metal fractal clusters for electromagnetic radiation with a wavelength λ and fulfillment of condition l << λ.
Interaction of Electromagnetic Radiation with the Metal Fractal Clusters. Part 1 DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.14.27
This paper provides the results of studies on the influence of the aluminum nanoisland dimensions with a length l during the fractal cluster formation on the polymer threads using the carbon benzene ring fibers on the conditions for the occurrence of “highly conductive off-surface state” during breakdown with an electric field strength of 1.6 kV/cm. The layer thickness was calculated in the case of the skin-effect in polymer threads with the metal fractal clusters for electromagnetic radiation with a wavelength λ and fulfillment of condition l << λ.
П. П. Мальцев
Взаимодействие электромагнитного излучения с металлическими фрактальными кластерами. Часть 1 DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.14.27
Приведены результаты исследований по влиянию размеров наноостровков алюминия с длиной l при формировании фрактальных кластеров на полимерных нитях из волокон бензольных колец углерода на условия возникновения эффекта «высокопроводящего надповерхностного состояния» при пробое с величиной напряженности электрического поля 1,6 кВ/см. Проведен расчет толщины слоя при скин-эффекте в полимерных нитях с металлическими фрактальными кластерами для электромагнитного излучения с длиной волны λ и выполнении условия l << λ.
Взаимодействие электромагнитного излучения с металлическими фрактальными кластерами. Часть 1 DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.14.27
Приведены результаты исследований по влиянию размеров наноостровков алюминия с длиной l при формировании фрактальных кластеров на полимерных нитях из волокон бензольных колец углерода на условия возникновения эффекта «высокопроводящего надповерхностного состояния» при пробое с величиной напряженности электрического поля 1,6 кВ/см. Проведен расчет толщины слоя при скин-эффекте в полимерных нитях с металлическими фрактальными кластерами для электромагнитного излучения с длиной волны λ и выполнении условия l << λ.
Теги: metal fractal clusters nanoscale aluminum droplets off-surface highly conductive state photon localization plasma polymer threads локализация фотонов металлические фрактальные кластеры надповерхностное высокопроводящее состояние наноразмерные капли алюминия плазма полимерные нити
Materials & Coatings
Материалы и покрытия
M. V. Agrinsky, V. M. Volynkin, D. G. Otkupman
Non-standard Materials for Optical System Development DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.40.48
With the advances in optical technologies, the quality requirements for the optical and technical products are increasing. Therefore, there is a need to develop new optical materials that can improve the parameters and specifications of optical systems, such as transparency, lightness, strength, environmental resistance and cost efficiency. The paper considers some non-conventional optical materials and their practical application.
Non-standard Materials for Optical System Development DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.40.48
With the advances in optical technologies, the quality requirements for the optical and technical products are increasing. Therefore, there is a need to develop new optical materials that can improve the parameters and specifications of optical systems, such as transparency, lightness, strength, environmental resistance and cost efficiency. The paper considers some non-conventional optical materials and their practical application.
М. В. Агринский, В. М. Волынкин, Д. Г. Откупман
Нестандартные материалы для создания оптических систем DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.40.48
С развитием оптических технологий повышаются требования к качеству оптотехнической продукции и возникает потребность в создании новых оптических материалов, способных улучшить параметры и характеристики оптических систем, такие как прозрачность, легкость, прочность, устойчивость к внешним воздействиям и экономическая эффективность. В работе рассмотрены некоторые нетрадиционные оптические материалы и их практическое применение.
Нестандартные материалы для создания оптических систем DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.40.48
С развитием оптических технологий повышаются требования к качеству оптотехнической продукции и возникает потребность в создании новых оптических материалов, способных улучшить параметры и характеристики оптических систем, такие как прозрачность, легкость, прочность, устойчивость к внешним воздействиям и экономическая эффективность. В работе рассмотрены некоторые нетрадиционные оптические материалы и их практическое применение.
Теги: adhesives for optical components crystals gels liquids polymers radiation-resistant materials thermoplastics thermosets гели жидкости клеи для оптических деталей кристаллы полимеры радиационно-стойкие материалы термопласты термореакты
S. O. Liubimovskii, V. S. Novikov, D. D. Vasimov, S. M. Kuznetsov, E. V. Anokhin, A. V. Bakirov, K. T. Kalinin, V. A. Demina, N. G. Sedush, S. N. Chvalun, M. N. Moskovskiy, G. Yu. Nikolaeva
Analysis of Polylactide-Based Materials by Raman Spectroscopy DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.50.60
We present Raman study of a number of polylactide-based materials: polylactide stereoisomers, L-lactide oligomers, L-lactide/ε-caprolactone copolymers, and poly(L-lactide)/hydroxyapatite composites. It is established that the composition and crystallinity degree of a wide range of polylactide-based materials can be determined by Raman spectra. The advancement of this technique is crucial for the development of innovative polylactide-based materials used both for diverse medical applications and, for example, in the creation of biodegradable disposable packaging to address environmental pollution problems.
Analysis of Polylactide-Based Materials by Raman Spectroscopy DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.50.60
We present Raman study of a number of polylactide-based materials: polylactide stereoisomers, L-lactide oligomers, L-lactide/ε-caprolactone copolymers, and poly(L-lactide)/hydroxyapatite composites. It is established that the composition and crystallinity degree of a wide range of polylactide-based materials can be determined by Raman spectra. The advancement of this technique is crucial for the development of innovative polylactide-based materials used both for diverse medical applications and, for example, in the creation of biodegradable disposable packaging to address environmental pollution problems.
С. О. Любимовский, В. С. Новиков, Д. Д. Васимов, С. М. Кузнецов, Е. В. Анохин, А. В. Бакиров, К. Т. Калинин, В. А. Демина, Н. Г. Седуш, С. Н. Чвалун, М. Н. Московский, Г. Ю. Николаева
Анализ материалов на основе полилактида методом спектроскопии комбинационного рассеяния света DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.50.60
В работе проводится исследование спектров комбинационного рассеяния (КР) света ряда материалов на основе полилактида: стереоизомеров полилактида, олигомеров L-лактида, сополимеров L-лактида и ε-капролактона, композитов поли(L-лактида) и гидроксиапатита. Установлено, что по спектрам КР можно определять состав и степень кристалличности широкого круга материалов на основе полилактида. Развитие такой методики очень важно для разработки инновационных материалов на основе полилактида, используемых как для разнообразных медицинских применений, так и, например, при создании биоразлагаемой одноразовой упаковки для решения проблем загрязнения окружающей среды.
Анализ материалов на основе полилактида методом спектроскопии комбинационного рассеяния света DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.50.60
В работе проводится исследование спектров комбинационного рассеяния (КР) света ряда материалов на основе полилактида: стереоизомеров полилактида, олигомеров L-лактида, сополимеров L-лактида и ε-капролактона, композитов поли(L-лактида) и гидроксиапатита. Установлено, что по спектрам КР можно определять состав и степень кристалличности широкого круга материалов на основе полилактида. Развитие такой методики очень важно для разработки инновационных материалов на основе полилактида, используемых как для разнообразных медицинских применений, так и, например, при создании биоразлагаемой одноразовой упаковки для решения проблем загрязнения окружающей среды.
Теги: composites copolymers crystallinity degree laser spectroscopy oligomers polylactide raman scattering raman spectra stereoisomers комбинационное рассеяние света композиты лазерная спектроскопия олигомеры полилактид сополимеры спектры кр степень кристалличности стереоизомеры
L. A. Mochalov, S. V. Telegin, E. A. Slapovskaya
Preparation and Properties Study of IGZO Thin Films Obtained by PECVD Method DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.62.70
In this paper, the plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) method was used for the first time to obtain InGaZnO (IGZO) thin films with various stoichiometry, morphology, and phase composition. The films were synthesized using the setup described in detail in [1–5]. The precursors were elementary high-purity In, Ga, and Zn, the carrier gases were Ar and H2, and a mixture of (Ar-H2-O2) was used as a plasma-forming gas. Deposition was performed on the high-pure quartz glass substrates. The composition of the samples was determined by the energy-dispersive X-ray analysis. The obtained samples were also examined by the scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM), and optical profilometry methods. The electrical properties of the obtained films, such as the type, mobility, and carrier concentration, were established by the Hall effect measurements.
Preparation and Properties Study of IGZO Thin Films Obtained by PECVD Method DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.62.70
In this paper, the plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) method was used for the first time to obtain InGaZnO (IGZO) thin films with various stoichiometry, morphology, and phase composition. The films were synthesized using the setup described in detail in [1–5]. The precursors were elementary high-purity In, Ga, and Zn, the carrier gases were Ar and H2, and a mixture of (Ar-H2-O2) was used as a plasma-forming gas. Deposition was performed on the high-pure quartz glass substrates. The composition of the samples was determined by the energy-dispersive X-ray analysis. The obtained samples were also examined by the scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM), and optical profilometry methods. The electrical properties of the obtained films, such as the type, mobility, and carrier concentration, were established by the Hall effect measurements.
Л. А. Мочалов, С. В. Телегин, Е. А. Слаповская
Получение тонких пленок IGZO с помощью метода PECVD и исследование их свойств DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.62.70
В настоящей работе впервые для получения тонких пленок состава InGaZnO (IGZO) различной стехиометрии, морфологии и фазового состава использовался метод плазмохимического осаждения из газовой фазы (PECVD). Пленки синтезировались с помощью установки, подробно описанной нами в работах [1–5]. Исходными веществами являлись элементарные высокочистые In, Ga и Zn, газами-носителями – Ar и H2, а в качестве плазмообразующего газа использовали смесь (Ar-H2-O2). Осаждение проводили на подложки из покровного стекла. Методом энергодисперсионного рентгеновского анализа был определен макросоcтав образцов. Полученные образцы были также исследованы методами сканирующей электронной (СЭМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ) и оптической профилометрии. По измерениям эффекта Холла были определены электрические свойства полученных пленок: тип, подвижность и концентрация носителей.
Получение тонких пленок IGZO с помощью метода PECVD и исследование их свойств DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.1.62.70
В настоящей работе впервые для получения тонких пленок состава InGaZnO (IGZO) различной стехиометрии, морфологии и фазового состава использовался метод плазмохимического осаждения из газовой фазы (PECVD). Пленки синтезировались с помощью установки, подробно описанной нами в работах [1–5]. Исходными веществами являлись элементарные высокочистые In, Ga и Zn, газами-носителями – Ar и H2, а в качестве плазмообразующего газа использовали смесь (Ar-H2-O2). Осаждение проводили на подложки из покровного стекла. Методом энергодисперсионного рентгеновского анализа был определен макросоcтав образцов. Полученные образцы были также исследованы методами сканирующей электронной (СЭМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ) и оптической профилометрии. По измерениям эффекта Холла были определены электрические свойства полученных пленок: тип, подвижность и концентрация носителей.