Тег "метрологическое обеспечение"
Электроника НТБ #1/2026 А. Смирнов ПРОБЛЕМЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ РАДИОТЕХНИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН НА ПРИМЕРЕ ИСПЫТАНИЙ НА ЭЛЕКТРОМАГНИТНУЮ СОВМЕСТИМОСТЬ. ЧАСТЬ 1
В статье проведен анализ соответствия нормируемых метрологических характеристик средств радиотехнических измерений регламентируемым требованиям измерительных задач по показателям точности на примере испытаний на ЭМС. Предлагается подход, который дает возможность достоверно определять характеристики измерительных преобразователей.
Электроника НТБ #2/2025 К. Епифанцев ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ НОРМАТИВНОЙ БАЗЫ И ЭТАЛОНОВ ДЛЯ ПОВЕРКИ МУЛЬТИСЕНСОРНЫХ СИСТЕМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.243.2.138.140 Проанализировано состояние эталонной базы для поверки мультисенсорных систем и определены направления ее развития. Показана эффективность применения таких систем в технике и промышленности для одновременного измерения нескольких параметров.
Станкоинструмент #4/2024 В. И. Пронякин, А. С. Комшин Качество изделий машиностроения и метрологическое обеспечение оценки соответствия продукции в производстве
DOI: 10.22184/2499-9407.2024.37.4.68.76 Рассмотрены вопросы обеспечения качества продукции в отечественном машиностроении, связанные с метрологическим обеспечением оценки соответствия продукции в производстве. Показаны сферы деятельности метрологии. Проведен анализ реализации метрологического обеспечения производства в ЕСТПП, ЕСТД. Анализируется производственная структура предприятия. Предложен подход к решению изложенных проблем метрологического обеспечения технологических процессов.
Фотоника #6/2024 С. Б. Бычков, А. О. Погонышев, С. В. Тихомиров, В. Р. Сумкин Методы измерения обратных потерь в волоконно-оптических линиях и компонентах
DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2024.18.6.470.484 В статье рассматриваются 3 метода измерения величины обратных потерь (ORL) в волоконно-оптических системах, применяемые в современных измерительных приборах – метод измерений на непрерывном излучении (CW), метод рефлектометрии во временной области (OTDR) и метод рефлектометрии в частотной области (OFDR). Проводится сравнительный анализ этих методов, рассматриваются преимущества и ограничения.
Электроника НТБ #6/2023 А. Смирнов ПРАКТИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ ИСПЫТАНИЙ УСТОЙЧИВОСТИ ТЕХНИЧЕСКИХ СРЕДСТВ К НИЗКОЧАСТОТНЫМ КОНДУКТИВНЫМ ПОМЕХАМ, ПРОВОДИМЫХ ПО ОБОРОННЫМ И АВИАЦИОННЫМ СТАНДАРТАМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.227.6.44.47 В статье обсуждаются особенности проведения испытаний на устойчивость к кондуктивным помехам в диапазоне частот до 150 кГц для оборудования оборонно-космической отрасли. Рассматриваются вопросы метрологического обеспечения данного вида испытаний. Ключевые слова: испытания на электромагнитную совместимость, кондуктивные помехи, метрологическое обеспечение, трансформатор связи
Электроника НТБ #10/2022 Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Е. Шакирова МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ АО «ЗПП» КАК ИНСТРУМЕНТ ПОВЫШЕНИЯ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.221.10.52.56 Рассмотрено метрологическое обеспечение АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечено, что в обеспечении высоких качественных показателей разрабатываемой продукции первостепенная роль принадлежит достоверным измерениям технических параметров: без правильно выполненных измерений нельзя судить о качестве и надежности изделий.
Станкоинструмент #3/2020 В. ПРОНЯКИН, А. КОМШИН О СОСТОЯНИИ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ОЦЕНКИ СООТВЕТСТВИЯ И КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ В ПРОЦЕССЕ ПРОИЗВОДСТВА
DOI: 10.22184/2499-9407.2020.20.03.16.17 Достижение высокого уровня, качества и конкурентоспособности отечественной продукции на мировом рынке недостижимо без квалифицированного метрологического обеспечения оценки соответствия продукции в процессе производства. В то же время в промышленности отсутствует необходимое количество кадров специалистов-метрологов.
Фотоника #7/2019 В. В. Григорьев, В. Е. Кравцов, А. К. Митюрев, Е. А. Науменко, А. О. Погонышев, К. Б. Савкин, С. В. Тихомиров Особенности метрологического обеспечения оптических рефлектометров
DOI: 10.22184/1992-7296.FRos.2019.13.7.676.679 В статье представлены результаты исследовательских работ, направленных на обеспечение единства измерений параметров оптических рефлектометров. Описываются эталонная база и нормативно-техническая документация, созданные специалистами ВНИИОФИ. Рассматриваются результаты внедрения и применения созданных эталонов. Также приводятся результаты исследований методов калибровки нового перспективного класса оптических рефлектометров, работающих в частотной области.
Фотоника #7/2019 М. В. Канзюба Метрологическое обеспечение измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения в пикосекундном диапазоне
DOI: 10.22184/1992-7296.FRos.2019.13.7.670.675 Прецизионная обработка материалов, техника лазерной дальнометрии и медицины используют пикосекундные импульсные лазерные системы. Это требует создания средств измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения. В статье представлены результаты деятельности ВНИИОФИ в области метрологического обеспечения измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения в пикосекундном диапазоне.
Электроника НТБ #5/2019 С. Аваков, В. Матюшков, А. Вискушенко, А. Казаков Отраслевая лаборатория испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования (ОЛИН СТО)
В статье описаны организационная структура, цели, задачи и оснащение отраслевой лаборатории испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования, созданной в ОАО «КБТЭМ-ОМО».
eng
