Наноиндустрия #5/2017
С.Степанов, С.Тарасов, А.Петров, С.Степанов
Исследование погрешности компарации при поверке концевых мер длины на приборе УКМ-100 Проведено исследование точности российского компаратора для поверки концевых мер длины УКМ-100 по международной методике Calibration of gauge block comparators. Показано, что калибровка является более гибким и определенным методом оценки точностных возможностей эталонных приборов, чем применение поверочной схемы. УДК 621.923, ВАК 05.11.01, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.58.61 Электроника НТБ #8/2015
А.Зуйков
АВТОМАТИЗАЦИЯ РАБОТЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ СЛУЖБЫ – ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ FLUKE MET/CAL В эффективной организации работы метрологической лаборатории большую роль играет программное обеспечение (ПО) для автоматизации поверки и систематизации ее результатов. Такое ПО позволяет значительно упростить и ускорить процесс поверки. Пример универсального и эффективного ПО для решения метрологических задач – Fluke MET/CAL. О возможностях этого программного обеспечения рассказывается в этой статье. Наноиндустрия #5/2015
А.Потемкин, П.Лускинович, В.Жаботинский
Стандарты нано- и пикометрового диапазонов на основе мер перемещения На основе монокристаллических материалов с обратным пьезоэффектом разработаны меры перемещения нано- и пикометрового диапазонов, которые могут применяться для калибровки сканирующих зондовых и электронных микроскопов. Измерения величин перемещений мер производилось оптическими интерферометрами на основе лазеров со стабилизацией частоты излучения брэгговской и цезиевой ячейками. Меры перемещения и интерферометры могут использоваться в качестве манипуляторов и сенсоров в технологическом оборудовании и измерительных приборах, а также при проведении лабораторных работ по наноматериалам, наномеханике и нанометрологии. DOI:10.22184/1993-8578.2015.59.5.74.80 Электроника НТБ #5/2014
Ю.Агрич, В.Лифшиц
Новый АЦП компании "Миландр" – Высокое быстродействие и малое энергопотребление Сегодня широко востребованы АЦП, в которых сочетаются такие характеристики как высокая производительность, большая разрядность, широкая полоса пропускания и низкое энергопотребление. До сих пор устройства данного класса производились в основном зарубежными компаниями. Сейчас в ЗАО ПКК "Миландр" разработан и готовится к выпуску быстродействующий конвейерный АЦП 5101НВ015 с разрядностью 12 или 14 бит и частотой выборки 20–150 МГц. О его особенностях и возможностях рассказывается в статье. Фотоника #2/2014
А. Фатуллаев, М.Тахмазли
Солнечные фотометры. Усовершенствование метода калибровки Ленгли При слежении за малыми космическими объектами необходима правильная оценка солнечной радиации, для этого фотометрическую аппаратуру подвергают предварительной калибровке. Предложена процедура усовершенствования калибровки солнечных фотометров методом диаграмм Ленгли. Фотоника #1/2014
Б.Форг, Ф.Германн, Д.Шифердеккер, И.Ленек, M.Шульц, M.Симон, K.Сторч, Ф.Фолклейн
Инфракрасные термопарные матрицы с улучшенным пространственными разрешением, чувствительностью и качеством изображения Теплоизмерительные бесконтактные приборы широко используются на практике для обеспечения безопасности, предотвращения несанкционированного проникновения на объекты, выявления заболевших в массе людей. Однако какому из приборов – тепловизору на основе микроболометров или камере на основе ИК-матрицы – отдать предпочтение, решает потребитель. Наноиндустрия #5/2013
П.Тодуа, В.Гавриленко
Нанометрология – основа устойчивого развития нанотехнологий Одна из ключевых задач нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано - и субнанометровом диапазонах. Важнейшими параметрами, характеризующими наночастицы, наноструктуры, нанопокрытия являются размерные. В статье представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии размерных измерений к единице длины в системе СИ. Аналитика #2/2013
В.Копачевский, Д.Клемято, В.Бойков, Л.Боброва, М.Кривошеева
Анализ химического состава веществ и материалов в режиме он-лайн Контроль элементного состава веществ и материалов в режиме реального времени на движущейся конвейерной ленте представляет огромный интерес с точки зрения получения информации для он-лайн управления технологическими процессами, сортировки продукции или исходных компонентов, контроля качества сырья и готовой продукции. Авторы рассматривают полностью автоматизированный лазерный анализатор элементного состава. Система может быть использована для контроля химического состава минеральных удобрений, угля, руды, кварцевого песка, глины, цемента, металлов, сплавов и многих других проб. Благодаря экономической эффективности применения анализатора в некоторых случаях удается достичь его полной окупаемости в течение нескольких месяцев. Один из примеров быстрой окупаемости – контроль содержания KCl в галургических калийных удобрениях. Уменьшение содержания KCl над номинальным значением в готовой продукции с 0,50 до 0,20 % позволяет окупить систему контроля за шесть месяцев. Аналитика #2/2013
Ю.Каламбет, С. Мальцев, Ю.Козьмин
"МультиХром" и метрология: 25 лет вместе Подводятся итоги 25-ти летней работы фирмы "Амперсенд" с точки зрения метрологии. Обобщен опыт работ по разработке программно-аппаратных комплексов для автоматизации хроматографического анализа "МультиХром". Рассмотрены основные источники ошибок измерения, способы подавления помех и их влияние на погрешность измерения. Обсуждаются решения, имеющие непосредственное отношение к метрологии: фильрация шумов, оценка параметров хроматографического пика, оценка характеристик и разделение перекрывающихся пиков, градуировка методами внутреннего и внешнего стандартов, расчет доверительных интервалов. Обсуждены вопросы валидации методик, программного обеспечения и оборудования. Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр" Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.