sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)
Книги по фотонике
Статьи
Фотоника #5/2025
Инновационный партнер форума «Микроэлектроника‑2025» – компания «Лазерный Центр»
Фотоника #2/2025
«СЛС Прайм Технолоджи»: лучший продукт – тот, который мы создаем вместе с нашим клиентом
Новости
//
все новости
26.11.2025
Итоги Российского форума «Микроэлектроника 2025»
07.11.2025
Российские лазеры покоряют Индию
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
Учредитель
Издатель
О журнале
Редакционный совет
Распространение
Редакционная политика:
РЕДАКЦИОННАЯ ПОЛИТИКА ЖУРНАЛА "ФОТОНИКА"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Требования к статьям
Соискателям учёной степени
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по фотонике
читать книгу
Под ред. В. Суптитц
Фотоника. Применение фотонов в современных технологиях
читать книгу
Хименко В.И.
Случайные данные: структура и анализ
читать книгу
Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Джейсон Д., Вилльямс Кейт Дж.
Основы микроволновой фотоники
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "эталон"
Аналитика #4/2023
А. Л. Рунов, М. С. Вонский, Н. В. Иванникова
Обеспечение достоверности биоаналитических измерений нуклеиновых кислот для пищевой промышленности
https://doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.4.306.309
Биоаналитические измерения нуклеиновых кислот применяются при решении важнейших задач, стоящих перед пищевой промышленностью. Обеспечение международной сопоставимости измерений составляет основу для международной торговли. Международное сотрудничество метрологических институтов обеспечивает сопоставимость измерений, в том числе в области анализа нуклеиновых кислот. ФГУП «ВНИИМ им. Д. И. Менделеева» ведет работы по созданию государственного первичного эталона единицы числа копий последовательности ДНК, который позволит на национальном уровне обеспечить метрологическую прослеживаемость результатов измерений нуклеиновых кислот. Для удовлетворения потребностей аналитических лабораторий будут созданы стандартные образцы состава нуклеиновых кислот.
Аналитика #6/2018
К. В. Чекирда
Международная система единиц, основанная на фундаментальных физических константах
Международная система единиц СИ (SI) содержит семь основных единиц: секунда, метр, килограмм, ампер, кельвин, моль и кандела. В настоящей момент она пересматривается с целью обновления определений четырех из этих единиц. В ноябре 2018 года обновленные определения килограмма, ампера, кельвина и моля будут утверждены Генеральной конференцией по мерам и весам (КГМВ) и международным органом, ответственным за глобальную сопоставимость измерений. Ожидается, что изменения вступят в силу 20 мая 2019 года. УДК 351.821 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.08.6.552.556
Наноиндустрия #5/2017
И.Пылев, И.Яминский
Эталон нанометра
Одна из проблем нанометрологии заключается в создании простого и доступного эталона длины в нанометровом диапазоне. На данный момент не существует малогабаритного эталона длиной ровно в 1 нм, с помощью которого можно было бы проводить калибровку сканирующего зондового микроскопа непосредственно в процессе сканирования. Его создание значительно упрощает процесс калибровки микроскопа, а сам эталон служит прочным метрологическим фундаментом для развития перспективных нанотехнологий. УДК 531.711 ВАК 05.02.23 DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.52.57
Фотоника #4/2016
О.Колмогоров, С.Донченко, Д.Прохоров, Б.Акулин, Н.Юстус
Средства метрологического обеспечения оптических рефлектометров и волоконно-оптических датчиков
Создание, испытания и эксплуатация волоконно-оптических систем связи и передачи информации (ВОСП), систем мониторинга на основе волоконно-оптических датчиков невозможны без проведения измерений их характеристик с помощью соответствующих средств измерений. В статье приведены требования нормативных документов по обеспечению единства измерений, рассмотрены методы и средства, применяемые при поверке и калибровке средств измерений параметров ВОСП и волоконно-оптических датчиков. DOI:10.22184/1993-7296.2016.58.4.94.100
Разработка: студия
Green Art