sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)
Книги по фотонике
Статьи
Фотоника #5/2025
Инновационный партнер форума «Микроэлектроника‑2025» – компания «Лазерный Центр»
Фотоника #2/2025
«СЛС Прайм Технолоджи»: лучший продукт – тот, который мы создаем вместе с нашим клиентом
Новости
//
все новости
26.11.2025
Итоги Российского форума «Микроэлектроника 2025»
07.11.2025
Российские лазеры покоряют Индию
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
Учредитель
Издатель
О журнале
Редакционный совет
Распространение
Редакционная политика:
РЕДАКЦИОННАЯ ПОЛИТИКА ЖУРНАЛА "ФОТОНИКА"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Требования к статьям
Соискателям учёной степени
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по фотонике
читать книгу
Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Джейсон Д., Вилльямс Кейт Дж.
Основы микроволновой фотоники
читать книгу
Скворцов Л.А.
Основы фотототермической радиометрии и лазерной термографии
читать книгу
Хименко В.И.
Случайные данные: структура и анализ
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "measurements"
Электроника НТБ #9/2024
К. Епифанцев
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ЗАВИСИМОСТИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ НА КОНТУРОГРАФЕ ОТ УГЛОВЫХ И СКОРОСТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ЩУПА
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.240.9.116.119 Представлены экспериментальные данные, которые позволяют изучить процесс калибровки контурографа для разных экспериментальных условий и выявить оптимальные значения угловых и скоростных параметров измерений.
Фотоника #6/2024
С. Б. Бычков, А. О. Погонышев, С. В. Тихомиров, В. Р. Сумкин
Методы измерения обратных потерь в волоконно-оптических линиях и компонентах
DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2024.18.6.470.484 В статье рассматриваются 3 метода измерения величины обратных потерь (ORL) в волоконно-оптических системах, применяемые в современных измерительных приборах – метод измерений на непрерывном излучении (CW), метод рефлектометрии во временной области (OTDR) и метод рефлектометрии в частотной области (OFDR). Проводится сравнительный анализ этих методов, рассматриваются преимущества и ограничения.
Электроника НТБ #5/2024
Н. Лемешко, М. Горелкин
ИЗМЕРЕНИЯ ПОМЕХ, ФОРМИРУЕМЫХ ДВИГАТЕЛЯМИ ПОСТОЯННОГО ТОКА, С ПОМОЩЬЮ ПРИБОРОВ КОМПАНИИ RIGOL. ЧАСТЬ 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.144.151 Рассмотрены способы анализа кондуктивных помех в сетях электропитания и приведен пример измерений кондуктивных помех, формируемых электродвигателями постоянного тока, с использованием осциллографов Rigol MSO8204 и анализаторов спектра Rigol RSA5056-TG.
Электроника НТБ #4/2024
Н. Лемешко, М. Горелкин
ИЗМЕРЕНИЯ ПОМЕХ, ФОРМИРУЕМЫХ ДВИГАТЕЛЯМИ ПОСТОЯННОГО ТОКА, С ПОМОЩЬЮ ПРИБОРОВ КОМПАНИИ RIGOL. ЧАСТЬ 1
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.235.4.104.110 Рассмотрены основные причины формирования кондуктивных электромагнитных помех электродвигателями постоянного тока (ЭДПТ), оценено влияние технического состояния и условий эксплуатации ЭДПТ на уровень помехоэмиссии, описаны методы снижения и способы измерений помех, формируемых ЭДПТ.
Электроника НТБ #8/2017
А.Насонов
Психология измерений
Рассмотрено влияние психологии на процессы создания электронных изделий. Отмечены подходы, позволяющие оптимизировать эти процессы с учетом психологических факторов. УДК 621.317 ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.169.8.106.108
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Наноиндустрия #6/2012
В.Матвеев
Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии
В статье приведена информация о прошедшей в Черноголовке 5-й школе по метрологии и стандартизации в наноиндустрии. В докладах показано состояние и развитие нанотехнологий в науке и технике, основным критерием которых стало повышение точности измерений на наноуровне. Приводятся сведения о современных приборах для измерительного контроля при проведении нанотехнологических операций.
Разработка: студия
Green Art