sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)
Книги по фотонике
Статьи
Фотоника #5/2025
Инновационный партнер форума «Микроэлектроника‑2025» – компания «Лазерный Центр»
Фотоника #2/2025
«СЛС Прайм Технолоджи»: лучший продукт – тот, который мы создаем вместе с нашим клиентом
Новости
//
все новости
26.11.2025
Итоги Российского форума «Микроэлектроника 2025»
07.11.2025
Российские лазеры покоряют Индию
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
Учредитель
Издатель
О журнале
Редакционный совет
Распространение
Редакционная политика:
РЕДАКЦИОННАЯ ПОЛИТИКА ЖУРНАЛА "ФОТОНИКА"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Требования к статьям
Соискателям учёной степени
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по фотонике
читать книгу
Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Джейсон Д., Вилльямс Кейт Дж.
Основы микроволновой фотоники
читать книгу
Скворцов Л.А.
Основы фотототермической радиометрии и лазерной термографии
читать книгу
Под ред. В. Суптитц
Фотоника. Применение фотонов в современных технологиях
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "raman spectroscopy"
Наноиндустрия #2/2015
О.Холлрихтер, У.Шмидт, С.Бройнингер
Комбинация конфокальной рамановской и растровой электронной микроскопии
Все более широкое применение в исследованиях находят комбинации РЭМ и рамановской спектроскопии (РС). Последняя дает возможность изучать молекулярную структуру вещества. DOI:10.22184/1993-8578.2015.56.2.50.57
Аналитика #2/2015
К.Понкратов
Контроль качества лекарственных препаратов с помощью рамановского спектрометра Renishaw inVia
В 2020 году в России будут производить каждое второе лекарство из тех, что продается в нашей стране, — такую цель поставило перед фармацевтическим рынком Министерство промышленности и торговли. Пока программа импортозамещения не достигла столь значимых результатов: сейчас зарубежные препараты занимают около 80%. Для того чтобы наладить производство в соответствии с требованиями GMP, необходимо создать соответствующие условия. Важнейшая стадия производственного цикла – контроль качества продукции. И здесь незаменим не требующий пробоподготовки неконтактный и неразрушающий метод рамановской спектроскопии. Рамановский эффект высоко чувствителен к небольшим различиям химического состава и кристаллографической структуры.
Наноиндустрия #7/2013
Th.Dieingv
Конфокальная рамановская 3D-визуализация высокого разрешения нитридов III группы
Требования к надежности электронных компонентов высоки, потому важно получение детальных сведений о свойствах кристаллических структур полупроводниковых материалов. Обычно для определения толщины пленок, параметров кристаллической решетки и испытаний деформированных состояний слоистых структур применяется рентгеновская дифракция, а для исследования поверхностей и дефектов конструкции, позволяющих установить хронологию роста кристаллов, – растровая электронная микроскопия. В статье представлены результаты исследований методом конфокальной рамановской 3D-визуализации, который позволяет выявлять деформацию и изменения в структуре кристаллической решетки.
Аналитика #5/2013
К. Понкратов
Исследование полупроводниковых материалов методом конфокальной рамановской микроскопии
Компания Renishaw (Великобритания) – мировой лидер в области промышленной метрологии, контроля перемещений, спектроскопии и прецизионной обработки. Конфокальный рамановский микроскоп inVia, выпускаемый компанией, объединяет в себе все новейшие технологии в полном соответствии с девизом компании – Apply Innovation. В статье приводятся примеры использования микроскопа для исследований качества пластин полупроводников.
Фотоника #6/2011
Г.Фишер
Визуализация химического картирования: конфокальная микроскопия комбинационного рассеяния
В статье продемонстрирована возможность получения изображения химического состава живых человеческих клеток, бактерий и лекарственных покрытий с помощью неразрушающей конфокальной рамановской микроскопии. Приведено подробное описание этой технологии и рассмотрены возможности ее применения.
←
1
2
Разработка: студия
Green Art