sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по фотонике
Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Джейсон Д., Вилльямс Кейт Дж.
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "image analysis"
Наноиндустрия #9/2018
Кондрашов Владимир Владимирович, Чапкин Вячеслав Вячеславович, Лукашенков Анатолий Викторович, Копылов Андрей Валерьевич, Середин Олег Сергеевич
Построение системы моделирования и управления процессом лазерной подгонки пленочных резисторов в микроэлектронике
В статье описано построение системы моделирования и управления процессом лазерной подгонки резистивных элементов на основе сеточных схемных моделей и методов анализа изображений. Подробно рассмотрены подходы к решению задач, возникающих при автоматизации процесса подгонки. УДК 62-5; 004.942; 004.932.2 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.211.216
Наноиндустрия #2/2016
И.Яминский, А.Филонов, О.Синицына, Г.Мешков
Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн"
Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн" предназначено для обработки данных и построения изображений в сканирующей зондовой микроскопии. Одновременно возможности этого программного пакета полезны в электронной и оптической микроскопии. DOI:10.22184/1993-8578.2016.64.2.42.46
Наноиндустрия #4/2012
С.Сомина, Р.Кадушников, А.Разводов
Цифровая микроскопия уходит в онлайн
Переход анализа изображений микроструктуры от традиционных программно-аппаратных комплексов к веб-сервисам способствует повышению эффективности работы специалистов и использования исследовательского оборудования. В статье описывается применение для этих целей веб-сервиса SIAMS Apps.
Фотоника #6/2011
Г.Фишер
Визуализация химического картирования: конфокальная микроскопия комбинационного рассеяния
В статье продемонстрирована возможность получения изображения химического состава живых человеческих клеток, бактерий и лекарственных покрытий с помощью неразрушающей конфокальной рамановской микроскопии. Приведено подробное описание этой технологии и рассмотрены возможности ее применения.
Разработка: студия Green Art