sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)
Книги по фотонике
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по фотонике
Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Джейсон Д., Вилльямс Кейт Дж.
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "долговечность"
Электроника НТБ #5/2024
В. Соляник, А. Мирошниченко
ВЛИЯНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК ОСМИЯ НА ЭМИССИОННУЮ СПОСОБНОСТЬ И ДОЛГОВЕЧНОСТЬ КАТОДА
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.98.104 В статье представлен обзор исследований влияния основных параметров металлопористых катодов на их эмиссионную способность и долговечность. Особое внимание уделено тонким пленкам, покрывающим эмиссионную поверхность катода. Рассмотрены режимы ионно-плазменного нанесения тонких пленок и методы исследования физических свойств тонких пленок.
Электроника НТБ #3/2024
Ю. Капшунова, С. Колочков
КОНТАКТИРУЮЩИЕ УСТРОЙСТВА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ И ИСПЫТАНИЙ ЭКБ – НАДЕЖНЫЕ РЕШЕНИЯ ОТ КОМПАНИИ «АЙСИ СОКЕТ»
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.128.130 Компания «АйСи Сокет» является одним из ведущих разработчиков и производителей высококачественных контактирующих устройств для тестирования и испытаний микросхем.
Электроника НТБ #2/2024
А. Строгонов
МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ ИС ПО ПАРАМЕТРИЧЕСКИМ ОТКАЗАМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96 В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.
Электроника НТБ #8/2022
А. Тищенко, А. Мясников, А. Зоркин, О. Тищенко, Е. Горбунова
РЕГУЛИРОВАНИЕ РАБОЧЕЙ ТЕМПЕРАТУРЫ ВТОРИЧНО-­ЭМИССИОННОГО КАТОДА
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.82.84 Проведены исследования и определено термическое сопротивление подложки вторично-­эмиссионного металлокерамического катода, обеспечивающее оптимальную температуру катода, вследствие чего достигается наибольшая длительность работы катода, а соответственно и долговечность ЭВП.
Наноиндустрия #4/2012
Ю.Федутик, К.Йост
Чистый зеленый и солнечный свет светодиодов
За века своего развития человечество, изобретая все более экономичные и эффективные источники света, прошло длительный путь от использования света костра, факелов и свечей до электрического освещения. С появлением технологий полупроводниковых светодиодов наступила "световая" эра. Этому способствует открытие квантовых точек (QD). Одно из важнейших требований – их долговечность. Немецкое предприятие PlasmaChem GmbH разработало технологию синтеза QD-кристаллов и создания матрицы преобразователя.
Фотоника #6/2011
С.Белянченко, Г.Изотова, С.Якушов
Российские термостойкие фотоумножители. Состояние и перспективы развития
Компания "МЭЛЗ ФЭУ" производит спектрометрические фотоэлектронные умножители. Разработаны термостойкие ФЭУ, работающие в условиях повышенной температуры окружающей среды в большом интервале температур: от 80 до 200°C.
Разработка: студия Green Art