eng
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
Просмотры: 1305
27.09.2022
В рамках трека «Развитие экосистемы создания доверенной ЭКБ и РЭА в условиях турбулентности» 5 октября 2022 года с 17.00 до 18.30 состоится обзорно-дискуссионное заседание «Обеспечение и контроль функционирования ЭКБ в экстремальных условиях изменения Климата (было «–7», а стало «–8»)…». Модераторы заседания – А.Ю.Никифоров (НИЯУ МИФИ), С.В.Воронин (ГК «Росатом»), А.А.Гапонов (Минпромторг России).
На заседании будут рассмотрены актуальные вопросы обеспечения и контроля радиационной стойкости ЭКБ. В настоящее время отношение к предмету заседания неоднозначно. С одной стороны, новый комплекс стандартов и разрабатываемые для его реализации базовые методики оценки стойкости значимо усложнили требования по обеспечению информативности и достоверности испытаний, увеличили их трудоемкость и методическую сложность. Это объективно ведет к росту сроков испытаний и затрат на их проведение, причем на всех этапах жизненного цикла изделий – при разработке, изготовлении и эксплуатации (на этапе разработки аппаратуры). С другой стороны многие предприятия-разработчики ЭКБ и РЭА и их заказчики не только не готовы к росту временных и финансовых затрат на испытания, но предпринимают все усилия для снятия требований радиационной стойкости в ТЗ, принимают внутренние нормативные документы, позволяющие или вообще не проводить радиационные испытания или профанировать их результаты. Новые организационные форматы постановки НИОКР, минуя привычные формы и каналы контроля за их проведением через головное НИО Госзаказчика по ЭКБ, также потенциально могут дать предприятиям дополнительные возможности для обхода требований стандартов.
В ходе обзорного заседания для рассмотрения выбраны три вопроса.
Сначала А.В.Селецкий (АО «НИИМЭ»), Н.А.Шелепин (ИНМЭ РАН) и А.Ю.Новоселов («Миландр-ЭК)» представят свои взгляды на задачу создания технологической платформы разработки радиационно-стойких схем на базе отечественного КМОП-производства. Данная тема предварительно обсуждалась на предконференции «Доверенные и экстремальные электронные системы» и вызвала большой интерес и предложения по расширению участников дискуссии.
Далее П.Л.Пармон (АО «НИИЭТ») и Г.В.Чуков (АО «ЭНПО СПЭЛС») обсудят опыт использования лазерного и рентгеновского испытательных комплексов на предприятии для оперативных оценок и контроля радиационной стойкости изделий и процессов разработки и производства ЭКБ. Основной вопрос здесь о целесообразности установки на предприятиях экспериментальных комплексов для оперативного контроля стойкости изделий и позволит ли это снизить затраты на проведение испытаний в испытательных центрах.
В завершение выступит А.В.Уланова (НИЯУ МИФИ) с кратким анализом методических особенностей оценки радиационной стойкости ЭКБ по новому комплексу стандартов и рассмотрит основные трудности, которые ожидают как предприятия-разработчиков ЭКБ, так и радиационно-испытательные центры.
В общей дискуссии примут участие эксперты – А.Н.Щепанов (АО «НИИП») и П.А.Чубунов (АО «НИИКП»).
Приглашаем участников Форума на обзорное заседание!
Регистрация на Российский форум «Микроэлектроника 2022» доступна по ссылке.
В ходе обзорного заседания для рассмотрения выбраны три вопроса.
Сначала А.В.Селецкий (АО «НИИМЭ»), Н.А.Шелепин (ИНМЭ РАН) и А.Ю.Новоселов («Миландр-ЭК)» представят свои взгляды на задачу создания технологической платформы разработки радиационно-стойких схем на базе отечественного КМОП-производства. Данная тема предварительно обсуждалась на предконференции «Доверенные и экстремальные электронные системы» и вызвала большой интерес и предложения по расширению участников дискуссии.
Далее П.Л.Пармон (АО «НИИЭТ») и Г.В.Чуков (АО «ЭНПО СПЭЛС») обсудят опыт использования лазерного и рентгеновского испытательных комплексов на предприятии для оперативных оценок и контроля радиационной стойкости изделий и процессов разработки и производства ЭКБ. Основной вопрос здесь о целесообразности установки на предприятиях экспериментальных комплексов для оперативного контроля стойкости изделий и позволит ли это снизить затраты на проведение испытаний в испытательных центрах.
В завершение выступит А.В.Уланова (НИЯУ МИФИ) с кратким анализом методических особенностей оценки радиационной стойкости ЭКБ по новому комплексу стандартов и рассмотрит основные трудности, которые ожидают как предприятия-разработчиков ЭКБ, так и радиационно-испытательные центры.
В общей дискуссии примут участие эксперты – А.Н.Щепанов (АО «НИИП») и П.А.Чубунов (АО «НИИКП»).
Приглашаем участников Форума на обзорное заседание!
Регистрация на Российский форум «Микроэлектроника 2022» доступна по ссылке.
Комментарии читателей
