DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2025.19.4.292.295

Представлены результаты изготовления и характеризации с использованием сканирующего атомно-силового микроскопа металлизированных апериодических дифракционных решеток (с частотой штрихов от 150 до 570 линий на мм) с использованием модернизированного штампового сканирующего электронного нанолитографа ZBA-21 с технологическим стандартом 200 нм и рабочей площадью изделия 150× 150 мм.

sitemap

Разработка: студия Green Art