DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2024.18.1.64.70

Статья посвящена учету зависимости коэффициента отражения калибровочных наземных тест-панелей, используемых при викариозной эмпирической калибровке радиометрической спектральной аппаратуры, установленной на БПЛА, от длины волны излучения. С учетом эффекта насыщения цифровых отсчетов (DN) изображения целевого объекта из-за логарифмической зависимости DN от коэффициента отражения реальных объектов исследованы условия достижения максимума усредненного по всему диапазону длин волн значения DN. Показано, что такой максимум может быть обеспечен при наличии обратной зависимости между показателем крутизны отражательных характеристик тестовых панелей от длины волны. Сделан вывод о том, что реально используемые тестовые панели лучше подчиняются этому требованию при высоких значениях показателя «уровня серого».