Аналитика #2/2013
Ю.Каламбет, С. Мальцев, Ю.Козьмин
"МультиХром" и метрология: 25 лет вместе
Подводятся итоги 25-ти летней работы фирмы "Амперсенд" с точки зрения метрологии. Обобщен опыт работ по разработке программно-аппаратных комплексов для автоматизации хроматографического анализа "МультиХром". Рассмотрены основные источники ошибок измерения, способы подавления помех и их влияние на погрешность измерения. Обсуждаются решения, имеющие непосредственное отношение к метрологии: фильрация шумов, оценка параметров хроматографического пика, оценка характеристик и разделение перекрывающихся пиков, градуировка методами внутреннего и внешнего стандартов, расчет доверительных интервалов. Обсуждены вопросы валидации методик, программного обеспечения и оборудования.
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Аналитика #2/2012
Крис Браун
Калибровка контрольных сит: это просто
Метод анализа, основанный на рассеве образцов – стандартная процедура для многих аналитических лабораторий научно-исследовательских институтов, вузов, на производстве. Необходимость сертификации в соответствии с международным стандартом ISO 9000 определяет повышенный интерес к улучшению качества испытаний, в том числе – методом рассева.
Аналитика #2/2012
Ю.Каламбет
Мифы внутреннего стандарта
Обсуждаются проблемы метода внутреннего стандарта, реализованного с помощью графика "отношение концентраций/отношение откликов". Приведен пример, когда при линейных зависимостях и точных измерениях метод дает ошибку определения концентрации. Показано, что "традиционное" решение и предложенный альтернативный подход дают эквивалентные результаты предсказания концентрации при прямо пропорциональных градуировках.