DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2019.13.7.694.699

Чувствительность тепловизионных и теплопеленгационных станций, используемых для сбора спектрально-­топологической информации, ограничена паразитными фоновыми засветками, попадающими на матрицу приемников излучения. В статье рассматривается влияние конструкции оправ оптических элементов в ИК‑объективе, предназначенном для работы в диапазоне 8–12 мкм, на величину внутреннего и внешнего паразитного фонового излучения. Оптимизация конструкции оправ позволяет минимизировать паразитные засветки и обеспечивает высокие эксплуатационные характеристики оптико-­электронной системы, в состав которой входит ИК‑объектив. В работе определены элементы конструкции, вносящие наибольший вклад в суммарный фоновый поток и оптимизирована их структура с помощью созданной цифровой модели. Рассмотрено влияние процесса охлаждения элементов конструкции на величину собственного фонового потока.

sitemap

Разработка: студия Green Art