Приведены экспериментальные результаты определения температурной зависимости показателя преломления n(T) ряда широкозонных полупроводниковых материалов. Эти значения являются необходимым условием для внедрения и использования лазерной интерференционной термометрии в технологических процессах и научных исследованиях.

DOI:10.22184/1993-7296.2016.59.5.62.74

sitemap

Разработка: студия Green Art